4．在物理實(shí)驗(yàn)中.通常要進(jìn)行多次實(shí)驗(yàn).如:①“研究凸透鏡成像 時(shí)要多次改變物距找像,②“測(cè)量物體長(zhǎng)度 時(shí)多次測(cè)量,③“研究并聯(lián)電路電流規(guī)律 時(shí)換用不同燈泡多測(cè)幾組數(shù)據(jù),④“用電壓表.電流表測(cè)電阻 .測(cè)量多組電壓和電流值.其中屬于從不同情況下探究普遍規(guī)律的多次實(shí)驗(yàn)是A．①② B．②③ C．①④ D．①③ 【查看更多】

 

題目列表(包括答案和解析)

在物理實(shí)驗(yàn)中，通常要進(jìn)行多次實(shí)驗(yàn)，但其目的可能不同：有的為了減小誤差；有的是為了尋找普遍規(guī)律．下列四個(gè)實(shí)驗(yàn)中屬于從不同情況下尋找普遍規(guī)律的實(shí)驗(yàn)是（　�。�

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在物理實(shí)驗(yàn)中，通常要進(jìn)行多次實(shí)驗(yàn)，如：①“研究凸透鏡成像”時(shí)要多次改變物距找像； ②“測(cè)量物體長(zhǎng)度”時(shí)多次測(cè)量； ③“研究并聯(lián)電路電流規(guī)律”時(shí)換用不同燈泡多測(cè)幾組；④“用電壓表、電流表測(cè)電阻”，測(cè)量多組電壓和電流，其中屬于從不同情況下．探究普遍規(guī)律的多次實(shí)驗(yàn)是
 
，其它實(shí)驗(yàn)多次測(cè)量的目的是
 
．

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在物理實(shí)驗(yàn)中，通常要進(jìn)行多次實(shí)驗(yàn)，如：①“研究并聯(lián)電路電流規(guī)律”時(shí)換用不同燈泡多測(cè)幾組數(shù)據(jù)；②“測(cè)量物體長(zhǎng)度”時(shí)多次測(cè)量；③“研究凸透鏡成像”時(shí)要多次改變物距找像；④“用電壓表、電流表測(cè)電阻”時(shí)測(cè)量多組電壓和電流值．其中屬于從不同情況下探究普遍規(guī)律的實(shí)驗(yàn)是(　　)

A．②③　　　B．①③　　　C．①②　　　D．①④

 

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在物理實(shí)驗(yàn)中，通常要進(jìn)行多次實(shí)驗(yàn)，如：①“研究凸透鏡成像”時(shí)要多次改變物距找像；②“測(cè)量物體長(zhǎng)度”時(shí)多次測(cè)量求平均值；③“研究并聯(lián)電路電流規(guī)律”時(shí)換用不同燈泡多測(cè)幾組數(shù)據(jù)；④“用電壓表、電流表測(cè)電阻”，測(cè)量多組電壓和電流值．其中屬于從不同情況下探究普遍規(guī)律的多次實(shí)驗(yàn)是(    )

 　　A．①②          B．②③         C．①④         D．①③

 

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在物理實(shí)驗(yàn)中，通常要進(jìn)行多次實(shí)驗(yàn)，如：
①“研究并聯(lián)電路電流規(guī)律”時(shí)換用不同燈泡多測(cè)幾組數(shù)據(jù)；
②“測(cè)量物體長(zhǎng)度”時(shí)多次測(cè)量；
③“研究凸透鏡成像”時(shí)要多次改變物距找像；
④“用電壓表、電流表測(cè)電阻”，測(cè)量多組電壓和電流值．
其中屬于從不同情況下探究普遍規(guī)律的實(shí)驗(yàn)是（ ）
A．②③
B．①③
C．①②
D．①④

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