Question

利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對(duì)應(yīng)于A和B處,下列判斷中正確的是.

1. A.
   N的上表面A處向上凸起
2. B.
   N的上表面B處向上凸起
3. C.
   條紋的cd點(diǎn)對(duì)應(yīng)處的薄膜厚度相同
4. D.
   條紋的d、e點(diǎn)對(duì)應(yīng)處的薄膜厚度相同

Answer 1

BC
試題分析：當(dāng)光線垂直入射時(shí)，被薄膜上下表面反射的光線的光程差為2ne, 其中2n是常量，厚度e相同的地方，位相差相同，所以C正確；達(dá)到相應(yīng)的厚度，才能得到相應(yīng)級(jí)次的條紋，條紋向左邊凸起，表明由于工件凹陷，導(dǎo)致厚度大于空氣膜的正常厚度，反之亦然，所以B正確。故選BC
考點(diǎn)：考查了薄膜干涉的應(yīng)用
點(diǎn)評(píng)：關(guān)鍵是理解薄膜干涉的原理，