Question

利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度．如圖（a）所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖（b）所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對(duì)應(yīng)于A和B處，下列判斷中正確的是（　�。�

• A、N的上表面A處向上凸起
• B、N的上表面B處向上凸起
• C、條紋的cd點(diǎn)對(duì)應(yīng)處的薄膜厚度相同
• D、條紋的d、e點(diǎn)對(duì)應(yīng)處的薄膜厚度相同

Answer 1

分析：薄膜干涉形成的條紋是膜的上下表面的發(fā)射光干涉產(chǎn)生的．當(dāng)兩反射光的路程差（即膜厚度的2倍）是半波長(zhǎng)的偶數(shù)倍，出現(xiàn)明條紋，是半波長(zhǎng)的奇數(shù)倍，出現(xiàn)暗條紋，可知薄膜干涉是等厚干涉，即明條紋處空氣膜的厚度相同．

解答：解：薄膜干涉是等厚干涉，即明條紋處空氣膜的厚度相同．條紋的cd點(diǎn)在直條紋處，故cd點(diǎn)對(duì)應(yīng)處的薄膜厚度相同，
從彎曲的條紋可知，A處檢查平面左邊處的空氣膜厚度與后面的空氣膜厚度相同，知A處凹陷，
B處檢查平面右邊處的空氣膜厚度與后面的空氣膜厚度相同，知B處凸起，
故選：BC．

點(diǎn)評(píng)：解決本題的關(guān)鍵知道薄膜干涉形成的條紋是膜的上下表面的發(fā)射光干涉產(chǎn)生的．以及知道薄膜干涉是一種等厚干涉．