獨(dú)立性檢驗(yàn)中，可以粗略地判斷兩個(gè)分類變量是否有關(guān)的是（　�。�
A、殘差B、等高條形圖C、假設(shè)檢驗(yàn)的思想D、以上都不對(duì)
分析：獨(dú)立性檢驗(yàn)中，用等高條形圖可以粗略地判斷兩個(gè)分類變量是否有關(guān)，但不能精確地給出結(jié)論的可靠程度
解答：解：獨(dú)立性檢驗(yàn)中，用等高條形圖可以粗略地判斷兩個(gè)分類變量是否有關(guān)，但不能精確地給出結(jié)論的可靠程度；
用獨(dú)立性檢驗(yàn)（2×2列聯(lián)表法）來(lái)考察兩個(gè)分類變量是否有關(guān)系時(shí)，算出的隨機(jī)變量k2的值越大，說(shuō)明“x與y有關(guān)系”成立的可能性越大，
故選：B
點(diǎn)評(píng)：本題主要考查了獨(dú)立性檢驗(yàn)，屬于基礎(chǔ)題．
練習(xí)冊(cè)系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：

9、下列關(guān)于三維柱形圖和二維條形圖的敘述正確的是：（　�。�

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科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：

有如下幾個(gè)結(jié)論：
①相關(guān)指數(shù)R2越大，說(shuō)明殘差平方和越小，模型的擬合效果越好；
②回歸直線方程：
y
=bx+a一定過(guò)樣本點(diǎn)的中心：（
.
x
，
.
y
）
③殘差點(diǎn)比較均勻地落在水平的帶狀區(qū)域中，說(shuō)明選用的模型比較合適；
④在獨(dú)立性檢驗(yàn)中，若公式K 2=
n(ad-bc)2
(a+b)(c+d)(a+c)(b+d)
中的|ad-bc|的值越大，說(shuō)明“兩個(gè)分類變量有關(guān)系”的可能性越強(qiáng)．其中正確結(jié)論的個(gè)數(shù)有（　�。﹤�(gè)．

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科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：單選題

下列說(shuō)法中錯(cuò)誤的是


  1. A.
    有時(shí)可以把分類變量的不同取值用數(shù)字表示，但這時(shí)的數(shù)字除了分類以外沒(méi)有其它含義
  2. B.
    在統(tǒng)計(jì)學(xué)中，獨(dú)立性檢驗(yàn)就是檢驗(yàn)兩個(gè)分類變量是否有關(guān)系的一種方法
  3. C.
    在進(jìn)行獨(dú)立性檢驗(yàn)時(shí)，可以先利用三維柱形圖和二維條形圖粗略地判斷兩個(gè)分類變量是否有關(guān)系
  4. D.
    通過(guò)三維柱形圖和二維條形可以精確的給出所得結(jié)論的可靠程度

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科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：

下列說(shuō)法中錯(cuò)誤的是（　�。�

A．有時(shí)可以把分類變量的不同取值用數(shù)字表示，但這時(shí)的數(shù)字除了分類以外沒(méi)有其它含義

B．在統(tǒng)計(jì)學(xué)中，獨(dú)立性檢驗(yàn)就是檢驗(yàn)兩個(gè)分類變量是否有關(guān)系的一種方法

C．在進(jìn)行獨(dú)立性檢驗(yàn)時(shí)，可以先利用三維柱形圖和二維條形圖粗略地判斷兩個(gè)分類變量是否有關(guān)系

D．通過(guò)三維柱形圖和二維條形可以精確的給出所得結(jié)論的可靠程度

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